FT-EL1便攜式EL缺陷測試儀
便攜式EL缺陷測試儀利用晶體硅的電致發光原理,能夠在不破壞太陽能電池片與組件的情況下,準確檢測出內部的多種缺陷,如隱裂、碎片、虛焊、斷柵等。這種非破壞性的檢測方式不僅保證了產品的完整性,還提高了檢測的準確性。
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2025-01-02 - 02
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